哪些因素影響了金屬探測儀的敏銳度？

    1、頻率對金屬探測儀敏銳度的影響：

    對于非鐵磁性金屬，由于主要產(chǎn)生渦流損耗，f增加，渦流損耗Pwl增加，二次場(chǎng)（渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)）也隨之增加，因此采用高頻可增進(jìn)對不銹鋼等非鐵磁性金屬目標的探測敏銳度。對于鐵磁性金屬目標，因主要發(fā)生磁效應，同時(shí)還有著(zhù)渦流的損耗，兩者所發(fā)生的二次場(chǎng)方向相反，f增加，兩個(gè)二次場(chǎng)相消增加，總的二次場(chǎng)減小，即對一般的鐵磁金屬的探測敏銳度減小。所以對于鐵磁性金屬目標，并不是頻率f越大敏銳度就越高。

    為了使金屬探測儀獲得夠足的分辨率，需要較高的激勵源頻率，但是噪聲信號的影響將隨著(zhù)激勵源頻率的增進(jìn)而增加，因而又希望采用盡可能低的頻率。考慮到當頻率達到飽和膝點(diǎn)頻率（當頻率達到某一值以后，渦流損耗將達到飽和，基本未再隨頻率的升高而增加，這時(shí)的頻率值即為飽和膝點(diǎn)頻率）以后，渦流損耗基本未再隨頻率升高而增加，即再增進(jìn)激勵源頻率對增進(jìn)分辨率已無(wú)意義。所以只依靠增加頻率來(lái)增進(jìn)敏銳度的做法是不切合實(shí)際的，頻率對敏銳度的影響是多方面的。

    2、電流對能耗的影響：

    據悉，在金屬探測儀激勵源線(xiàn)圈充滿(mǎn)率既定（磁極上線(xiàn)圈排列和線(xiàn)圈匝間距離相同）的條件下，且激勵的電流在不變時(shí)，渦電流損耗和激勵源線(xiàn)圈匝數的平方成正比，或與激勵源線(xiàn)圈電流密度的平方成正比。

    通過(guò)相關(guān)計算式得知，渦流損耗Pw與磁感應強度較大值Bm的平方成正比。磁感應強度又與線(xiàn)圈的匝數和電流的大小的乘積成正比。因此激勵源線(xiàn)圈的充滿(mǎn)率在某一條件下，而且激勵的線(xiàn)圈匝數在不變時(shí)，渦電流的損耗和激勵源線(xiàn)圈的電流平方呈正比。同樣道理，在激勵源線(xiàn)圈的充滿(mǎn)率既定條件下，且激勵線(xiàn)圈電流密度不變時(shí)，渦流損耗與激勵源線(xiàn)圈匝數的平方成正比。

    由金屬探測儀電磁的設計原理可知，探測的磁芯不變，其線(xiàn)圈的幾何尺寸不變且充滿(mǎn)率一樣時(shí)，激勵源的線(xiàn)圈直流電阻也會(huì )和匝數平方呈正比;同樣道理，在線(xiàn)圈幾何的尺寸不變、充滿(mǎn)率相等時(shí)，渦流損耗Pwl和激勵源線(xiàn)圈直流電阻損耗也均與激勵源線(xiàn)圈電流密度的平方成正比。因此只靠轉變激勵源的線(xiàn)圈幣數或是電流的密度不會(huì )改良傳感器探頭對于渦電流損耗測量的敏銳度。要改變敏銳度應從探頭幾何形狀、材質(zhì)、頻率、探頭尺寸等方面進(jìn)行研究解決。